












測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度

新聞資訊
News時間:11-26 2025 來自:祥宇精密
祥宇影像測量儀是一種集光學、機械、電子、計算機圖像處理技術于一體的高精度測量設備。它通過攝像頭捕捉被測物體的圖像,然后利用軟件進行分析和處理,從而實現對物體尺寸、形狀、位置等參數的精確測量。相比傳統的接觸式測量方法,祥宇影像測量儀具有非接觸、速度快、精度高等優點。
形位公差(幾何公差)是指零件的形狀和位置相對于理想形狀和位置的允許偏差。常見的形位公差包括直線度、平面度、圓度、圓柱度、平行度、垂直度、同軸度、同心度、對稱度、位置度等。在許多工業應用中,形位公差的精確檢測非常重要。例如,在機械制造中,齒輪、軸承等零部件的形位公差直接影響到機械設備的性能和壽命;在電子制造中,電路板上的孔位形位公差對電子產品的性能和可靠性至關重要;在汽車制造中,發動機、變速器等零部件的形位公差直接影響到汽車的安全性和舒適性。
祥宇影像測量儀檢測形位公差的基本原理如下:
圖像采集
使用攝像頭捕捉被測物體的圖像。這一過程通常只需要幾秒鐘的時間。為了獲得高質量的圖像,可能需要調整光源的角度和強度,以及鏡頭的焦距。
圖像處理
將采集到的圖像輸入到計算機中,利用軟件進行處理和分析。這一過程包括圖像增強、邊緣檢測、特征提取等步驟。祥宇影像測量儀的軟件具備強大的圖像處理能力,能夠在短時間內完成復雜的計算任務。
特征識別
利用圖像處理技術,精確識別出被測物體的形狀和位置特征。這一過程通常通過邊緣檢測和擬合算法來實現。
公差計算
根據識別出的形狀和位置特征,計算出被測物體的形位公差。這一過程通常由軟件自動完成,操作人員只需查看最終結果即可。
報告生成
最后,軟件會自動生成一份詳細的檢測報告,包括被測物體的形位公差以及其他相關參數。操作人員可以根據報告做出相應的決策。
非接觸測量
祥宇影像測量儀采用非接觸測量方式,不會對被測物體造成損傷,適用于各種精密零件的測量。
高精度
祥宇影像測量儀具有極高的測量精度,能夠滿足各種高精度測量需求。對于形位公差的檢測,其精度可以達到微米級別。
快速測量
祥宇影像測量儀采用先進的圖像處理技術和優化算法,能夠在短時間內完成復雜的測量任務。對于形位公差的檢測,通常只需要幾秒鐘到幾十秒鐘的時間。
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